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隨著芯片制造和測試自動化程度的提高，人體接觸器件的機會相對減少，帶電器件模型（CDM）已經成為微電子器件失效的主要原因之一，其重要性越來越多地受到人們的重視。

美國舊版國家標準 ANSI／ESD S20.20-1999，頒布后即被美軍方采納，也屬美國軍用標準，該標準規定：EPA的濕度控制由各單位決定、自己選擇，推薦范圍為30％RH～70％RH，并聲明“僅為建議值”。我國1997年版軍用標準GJB 3007《防靜電工作區技術要求》規定的濕度控制范圍為45％RH～75％RH，濕度低限值高，不同于我國航天標準的要求，在實施中給航天有關單位帶來困難。例如，在質量體系認證時往往受到責問：“為什么不執行國家軍用標準的規定？”，并認定發生了“不合格項”

測量的技術參數有靜電電荷、靜電電壓、表面電阻、體電阻、接地電阻、靜電衰變時間、靜電放電的電流波形和靜電放電的能量。

靜電損傷直接危害產品質量，特別隨著電子產品或元件集成度不斷提高，靜電損傷可能性進一步增加。只有提供系統的、有效的靜電防護措施才能使ESDS產品或元件免受損傷，產品質量才能更上臺階。然而，當前很多國產器件研制生產單位過度考慮成本，導致靜電防護不到位，

測量是工業的眼睛，沒有眼睛就什么也不知道了。靜電防護工程和產品是否合格，要用數據說話，測量儀器以及儀器的計量校準方法也是靜電防護的關鍵技術。